纳米颗粒跟踪分析仪
产品型号： ZetaView
所属分类：分析仪
产品时间：2023-10-28
简要描述：纳米颗粒跟踪分析仪Zetaview所具备的单一颗粒跟踪技术，结合经典微电泳技术和布朗运动成为现代的分析手段。自动校准和自动聚焦功能，让用户眼见为实，更加直观人性化。通过子体积的扫描，来自于数以千计的颗粒的zeta电位和粒径柱状图的结果就可以计算出来。此外，颗粒浓度也可以通过视频计数分析得到。
详细说明：
纳米颗粒跟踪分析仪
Zetaview所具备的单一颗粒跟踪技术，结合经典微电泳技术和布朗运动成为现代的分析手段。自动校准和自动聚焦功能，让用户眼见为实，更加直观人性化。通过子体积的扫描，来自于数以千计的颗粒的zeta电位和粒径柱状图的结果就可以计算出来。此
外，颗粒浓度也可以通过视频计数分析得到。检测限是0.5nm，对于纳米颗粒跟踪分析，其检测限是10nm。通常，DLS和NTA的主要区别就在于浓度范围。对于DLS，当样品浓度太低时，zetaview可以非常圆满的完成检测任务。相反，对于高浓度的样品，DLS方法会非常的适合。
测量范围
测量范围依赖于样品和仪器。对于金样品，颗粒跟踪技术的检测下限为10nm；相应的，如果样品的散射能力较弱，则检测下限会变得更大。假如样品稳定，不会沉淀或漂浮，zeta电位测量的粒径上限为50微米，对于粒径测量为3微米。
源于视频分析的颗粒计数
颗粒浓度可通过视频分析得到，并归一化处理，散射体积对粒径。可检测的最小浓度为105粒子/cm3，最大为1010粒子/cm3。对于200nm的颗粒，最大体积浓度为1000ppm。
方法
Zetaview激光散射显微镜对于低于1微米衍射极限100倍的纳米粒子是非常敏感的。
